注：此TP-23早期頒布EIA RS-364
1.0 TP-23低等位接觸（chù）電阻
2.0 目的
本方法是介紹一（yī）種在標準方法測（cè）量一配套端子，在絕緣層沒有被破壞（huài）或熔化的情況下的接觸電阻。
3.0 樣品準備
3.1 測試樣品由一對配合的端子組成，如一個錫腳和一焊座﹐極性相反的相配套端子或印刷電路板和它的配合端子。
3.2 用規格（gé）中所說明的電線按圖2A所示進行聯機﹐端子配合如圖2B所示﹒
3.3 測試樣品應組裝成能進（jìn）行正常工作的連接器﹐不能安裝成連接器的樣品不得以任何（hé）其它方（fāng）法（fǎ）強行安（ān）裝，若強行安（ān）裝會影響相配端子內接觸麵的強力（lì）。
4.0 測（cè）試方法
4.1 測試儀器
    測試儀器包括﹕
4.1.1滿偏量程精確至±2％或確切讀數精確至±10％的合適（shì）範（fàn）圍的毫伏表。
4.1.2一個低等位回路具備傳遞（dì）和準確測量最大電流100mA和最大開路電位20 mV的能力。圖1所示的一種可行的回路（此（cǐ）回（huí）路輸出測試電流為1mA），對於交流測量﹐此頻率不超過2KHz﹒   
4.1.3測量可用直流或（huò）交流電進行﹐但無論如何﹐應當（dāng）控製（zhì）直流測試。
4.2測試步驟
4.2.1連接測試樣（yàng）品（pǐn）T1和T2。
4.2.2在測試回路正（zhèng）方向上加電壓﹐並紀錄電壓降包（bāo）括電壓（yā）Vf和電流If的極性。
4.2.3在測試回路反方向上加電（diàn）壓﹐並紀錄電壓降（jiàng）包括電壓Vr和電（diàn）流Ir的極性。
4.2.4接觸電阻等於正反（fǎn）方向壓（yā）降的差的絕對值除以正向電流和反向電（diàn）流絕對值之和（hé），公式如下﹕
              R＝|Vf－Vr |/（|If|+| Ir |）
其中﹕ R=接觸電阻 單位（wèi）﹕奧姆
        Vf =正向壓降包括極性 單位﹕伏特
        Vr =反向壓降包括極性 單位﹕伏特
        If =正向測試電流    單位（wèi）﹕安培
        Ir =反向測試（shì）電流    單位﹕安培
4.2.5 預防（fáng）措施
4.2.5.1測試前或測試期（qī）間﹐測試樣品加壓不得超（chāo）過20mV。
4.2.5.2        導線總電阻（包括接觸端（duān）和主要電阻）應不少於100mΩ。
4.2.5.3        在任何預先狀態和環境暴露之間低壓電阻測試完成前﹐不可以中斷端子接觸。
5.0 細節（jiē）說明
    當按規格進行測（cè）試時,下列細節要被說明﹕
（a） 被測樣品數目﹔
（b） 導線的類型和尺寸﹔
（c） 電阻的要求（qiú）﹔
（d） 尺寸Y－Y（見圖2A）
6.0 參考文件
數據窗體應包括﹕
（a）測試標題﹔
（b）樣品描述﹔
（c）所（suǒ）用測試儀器﹔
（d）測試步（bù）驟﹔
（e）評估（gū）和觀測﹔
（f）測（cè）試日期和操作者姓名﹔
（g）樣品分析。
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