微米級顆粒檢測係統,電磁式振動台
勤(qín)卓品牌電磁式振動台(tái)(又稱之為電動振動試驗係統)係統主要應用於航天、航空、兵器、船舶、汽車、通訊、家電、電子、科研院校等領域。是在實驗室內反映被測件在運輸和實際工作環(huán)境中對振動環境變化的適應(yīng)性(xìng),暴露產品的缺陷,是新產品研製、樣機試驗、產(chǎn)品合格鑒定試驗全過程重要試驗手(shǒu)段。總而言之,本係列的電磁式振動台,就是尋找產品的(de)破壞點(故障點)。
勤(qín)卓品牌電磁式振動台(tái)(又稱之為電動振動試驗係統)係統主要應用於航天、航空、兵器、船舶、汽車、通訊、家電、電子、科研院校等領域。是在實驗室內反映被測件在運輸和實際工作環(huán)境中對振動環境變化的適應(yīng)性(xìng),暴露產品的缺陷,是新產品研製、樣機試驗、產(chǎn)品合格鑒定試驗全過程重要試驗手(shǒu)段。總而言之,本係列的電磁式振動台,就是尋找產品的(de)破壞點(故障點)。
勤卓品牌(pái)電磁式振動台(又稱之為電動(dòng)振動試驗係統)係統主要應用於航天、航空、兵器(qì)、船舶、汽車(chē)、通訊、家電、電子、科研院校等領(lǐng)域。是在實驗室內反映被測件在運輸和(hé)實際工作環境(jìng)中對振動環境變化的適(shì)應性,暴露產品的(de)缺(quē)陷,是(shì)新產品研(yán)製、樣機試驗、產品合(hé)格鑒定試驗全過程重要試驗手段(duàn)。總而言(yán)之,本係列的電磁(cí)式振動台,就是尋找產品的破壞點(故障點)。
在電工電子產品環(huán)境(jìng)試(shì)驗GB/T 2423.10-1995中 ,對微米級顆粒檢測係統,電磁式(shì)振動台按所規定的方法裝上負荷時,振動台和夾具的特性要(yào)求有哪些呢?
1. 基本運動。基本運(yùn)動應為時間的正弦函數,樣品的各固定點(diǎn)應基本上同(tóng)相沿平行直線運動(dòng),並符合(hé)4.②和4.③的容差要求。
2. 橫向運動。垂直於規(guī)定軸線任何(hé)軸線的檢測點上的最大振幅,當頻率等於或低於(yú)500Hz時,不大於規定振幅的 50%,當頻(pín)率超過 500 Hz 時,不大於規定振幅(fú)的100%。橫向的測量僅需在規定的頻率範圍上進行。在特殊情況下,例如對小樣品,如果有關規範有規定,允許的橫向運動的振幅不大於 25%。
在某些情況下,對於大樣品或對於較(jiào)高的試驗頻率,要達到上述要求可能是困難的。在這樣的情況下,有關規範要指出下述二條(tiáo)中的那一條適用。
a)應在報告中指明並記錄超過上(shàng)述規定的任(rèn)何橫(héng)向運動;
b)橫向運動不監控。
③ 失真。微米級顆(kē)粒檢測係統,電磁式振(zhèn)動台加速度波形失真的測量應在基(jī)準點上進行,應(yīng)覆蓋到5000Hz或驅動頻率的五倍,並采用其中的較高者。按第3章的規(guī)定,失真度不(bú)應(yīng)超過25%。在某些情況下,要達到上述要求是不可能的,在這種情況下,如果基頻控製信號的加速(sù)度振(zhèn)幅被恢複到規定的值,例如使用跟蹤濾波器,則(zé)可(kě)以容許失(shī)真度超過25%。
對大的或複(fù)雜的樣品,在頻率範圍內的某(mǒu)些部分上,若所(suǒ)規(guī)定的失真要求不能被滿足,而且使用跟蹤濾波器也不現實時,則就不需要恢複加速度振幅,但應指明失真並記錄在(zài)報告中(見 A2.2)。不管(guǎn)是否使用跟蹤濾波器,有關規範可以要求記下如上述所規定的失真及其受影響的頻率範圍(見(jiàn)A2.2)。
4. 振幅(fú)容差。在所要求軸線上的(de)檢測點和基準(zhǔn)點上的實際振幅應等於所規定(dìng)的值,並應在下(xià)列容(róng)差(chà)範圍內。這些容差包括(kuò)儀器誤差。
① 基準(zhǔn)點
基準點上(shàng)控(kòng)製信號的容差:士15%(見A2.3)
有(yǒu)關規範應指明是(shì)采用單點控製,還(hái)是采用多點控製。如果采用多點控(kòng)製,應說明(míng)是將各檢測點上信號的平均值控製到所規定的值,還是將(jiāng)所(suǒ)選擇的一個點上(shàng)的(de)信(xìn)號控製到所規定的值(見A2.3)。
② 檢測點
在每一檢測點上:
當頻率低於或等於(yú)500Hz時: 士25%;
當頻率超過500Hz時: 士50%
在(zài)某些情況下,例如對低頻或大樣品的某些頻率要達到(dào)上述要求可能是(shì)困難的,應當在規範中規定一個(gè)較寬(kuān)的容差或(huò)規(guī)定另一種可選(xuǎn)擇的評價(jià)方法。
③ 頻率容差
低於或等於(yú)0.25Hz時 士0.05 Hz;
從0.25 Hz~5 Hz時: 士20%;
從(cóng)5 Hz~50 Hz時: 士1%;
超過50Hz時: 士2%。
在比較耐久試(shì)驗前後的危險頻率時(見8.1),即在振(zhèn)動響應檢查期間,應(yīng)采用下列容差:
低(dī)於或等於0.5Hz時: 士0.05 Hz;
從0.5 Hz~5 Hz時: 士10%;
從5 Hz~100 Hz 時(shí): 士0.5 Hz;
④ 掃頻
微米級顆粒(lì)檢測係統,電磁式(shì)振動台掃頻應是連續的,且頻率應隨時間按指數規律變化(見A4.3)掃頻的速率應為每分鍾一個倍頻程,其容差為士10%。
【APTT型係列/5000Hz】 |
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NO |
APTT |
型(xíng)號(hào) |
振動方式/頻率Hz |
方向(xiàng):四度一體機(jī) |
控製模式:同一台麵一體機 |
尺寸CM |
總高(gāo)cm |
承重kg |
振幅mm |
加速度 |
時(shí)間: |
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6 |
APTT型 正弦(xián)+ 隨(suí)機波 頻率 600Hz |
QZ-50APTT |
[隨機(jī)波+正弦波] ■隨機波 + 正弦(同P.W.T型功(gōng)能) ■調率:0Hz-5000Hz 含:振動台控製分析係統 |
方向(xiàng)模式:隨機波 |
1個 APTT型 正(zhèng)弦+ 隨機(jī)波 控製箱 |
﹢ |
50*50 |
35cm |
出貨 100kg |
0-5mm |
0-20g |
■ 時間: 0秒到 135年 單位:秒 |
7 |
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QZ-75APTT |
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■同一台麵 |
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75*75 |
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同時+個別+連續 |
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四度一體機 |
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(垂直)+(水平) |
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